推荐场景
适用于 PLP、Fan-out 和大面积封装结构中的翘曲控制。

专为板级封装(PLP)设计。极低CTE (13 ppm/K) 和高Tg (200℃),有效控制翘曲。
TC1700 面向板级封装和低翘曲结构,强调低 CTE 与高 Tg。
适用于 PLP、Fan-out 和大面积封装结构中的翘曲控制。
建议结合封装尺寸、芯片布局、回流曲线和热循环可靠性一起评估。
评估时建议把芯片尺寸、封装面积、热路径、回流条件和可靠性目标一起纳入,不单独比较导热或 CTE。
封装尺寸与结构 / 目标热路径 / 翘曲与可靠性目标
详细工艺条件、测试口径与完整参数项目建议在样品沟通阶段确认。
* 以上为关键指标参考范围。完整测试项目、测试条件、样品批次与工艺环境,以双方样品评估和正式文件确认为准。